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存儲測試是測的啥

發布時間: 2023-02-06 22:24:43

❶ 請問華賽的存儲測試工程師主要是做什麼的會用到那方面的知識有前景嗎謝謝!

負責存儲產品上FPGA的測試方案設計與執行。制定大規模邏輯(FPGA)測試方案與計劃,進行邏輯代碼檢視、靜態模擬,編寫測試代碼,完成測試執行。

❷ 網盤存儲需要測試哪些要點,如文件同步備份恢復共享需要測試什麼

用電腦管家工具箱的最近文檔就可以
打開這個功能後,可以直接查到最近30天內打開的所有文檔
然後還可以用手機小程序,查看和傳輸文檔,隨時隨地查看文件。

❸ 如何測試W5300的內部TX/RX存儲器

存儲器測試的目的是確認在存儲設備中的每一個存儲位置都在工作。換一句話說,如果你把數50存儲在一個具體的地址,你希望可以找到存儲在那裡的那個數,直到另一個數寫入。任何存儲器測試的基本方法是,往存儲器寫入一些數據,然後根據內存設備的地址,校驗讀回的數據。如果所有讀回的數據和那些寫入的數據是一樣的,那麼就可以說存儲設備通過了測試。只有通過認真選擇的一組數據你才可以確信通過的結果是有意義的。
當然,像剛才描述的有儲器的測試不可避免地具有破壞性。在內存測試過程中,你必須覆蓋它原先的內容。因為重寫非易失性存儲器內容通常來說是不可行的,這一部分描述的測試通常只適用於RAM 的測試。 一,普通的存儲器問題
在學習具體的測試演算法之前,你應該了解可能遇到的各種存儲器問題。在軟體工程師中一個普遍的誤解是,大部分的存儲器問題發生在晶元的內部。盡管這類問題一度是一個主要的問題,但是它們在日益減少。存儲設備的製造商們對於每一個批量的晶元都進行了各種產品後期測試。因此,即使某一個批量有問題,其中某個壞晶元進人到你的系統的可能性是微乎其微的。
你可能遇到的一種類型的存儲晶元問題是災難性的失效。這通常是在加工好之後晶元受到物理或者是電子損傷造成的。災難性失效是少見的,通常影響晶元中的大部分。因為一大片區域受到影響,所以災難性的失效當然可以被合適的測試演算法檢測到。
存儲器出問題比較普遍的原因是電路板故障。典型的電路板故障有:
(1)在處理器與存儲設備之間的連線問題
(2)無存儲器晶元
(3)存儲器晶元的不正確插人
二,測試策略
最好有三個獨立的測試:數據匯流排的測試、地址匯流排的測試以及設備的測試。前面兩個測試針對電子連線的問題以及晶元的不正確插入;第三個測試更傾向於檢測晶元的有無以及災難性失效。作為一個意外的結果,設備的測試也可以發現控制匯流排的問題,盡管它不能提供關於問題來源的有用信息。
執行這三個測試的順序是重要的。正確的順序是:首先進行數據匯流排測試,接著是地址匯流排測試,最後是設備測試。那是因為地址匯流排測試假設數據匯流排在正常工作,除非數據匯流排和地址匯流排已知是正常的,否則設備測試便毫無意義。如果任何測試失敗,你都應該和一個硬體工程師一起確定問題的來源。通過查看測試失敗處的數據值或者地址,應該能夠迅速地找出電路板上的問題。
1,數據匯流排測試
我們首先要測試的就是數據匯流排。我們需要確定任何由處理器放置在數據匯流排上的值都被另一端的存儲設備正確接收。最明顯的測試方法就是寫人所有可能的數據值並且驗證存儲設備成功地存儲了每一個。然而,那並不是最有效率的測試方法。一個更快的測試方法是一次測試匯流排上的一位。如果每一個數據上可被設置成為 0 和1,而不受其他數據位的影響,那麼數據匯流排就通過了測試。
2,地址匯流排測試
在確認數據匯流排工作正常之後,你應該接著測試地址匯流排。記住地址匯流排的問題將導致存儲器位置的重疊。有很多可能重疊的地址。然而,不必要測試每一個可能的組合。你應該努力在測試過程中分離每一個地址位。你只需要確認每一個地址線的管腳都可以被設置成0和 1,而不影響其他的管腳。
3,設備測試
一旦你知道地址和數據匯流排是正確的,那麼就有必要測試存儲設備本身的完整性。要確認的是設備中的每一位都能夠保持住0和 1。這個測試實現起來十分簡單,但是它花費的時間比執行前面兩項測試花費的總時間還要長。
對於一個完整的設備測試,你必須訪問(讀和寫)每一個存儲位置兩次。你可以自由地選擇任何數據作為第一步測試的數據,只要在進行第二步測試的時候把這個值求反即可。因為存在沒有存儲器晶元的可能性,所以最好選擇一組隨著地址變化(但是不等於地址)的數。優化措施
市場上並不缺少提高數據存儲效率的新技術,然而這些新技術絕大多數都是關注備份和存檔的,而非主存儲。但是,當企業開始進行主存儲數據縮減時,對他們來說,了解主存儲優化所要求的必要條件十分重要。
主存儲,常常被稱為1級存儲,其特徵是存儲活躍數據――即經常被存取並要求高性能、低時延和高可用性的數據。主存儲一般用於支持關鍵任務應用,如資料庫、電子郵件和交易處理。大多數關鍵應用具有隨機的數據取存模式和不同的取存要求,但它們都生成機構用來運營它們的業務的大量的數據。因此,機構製作數據的許多份拷貝,復制數據供分布使用,庫存數據,然後為安全保存備份和存檔數據。
絕大多數數據是起源於主數據。隨著數據存在的時間增加,它們通常被遷移到二級和三級存儲保存。因此,如果機構可以減少主數據存儲佔用空間,將能夠在數據生命期中利用這些節省下來的容量和費用。換句話說,更少的主存儲佔用空間意味著更少的數據復制、庫存、存檔和備份。
試圖減少主存儲佔用空間存儲管理人員可以考慮兩種減少數據的方法:實時壓縮和數據去重。
直到不久前,由於性能問題,數據壓縮一直沒有在主存儲應用中得到廣泛應用。然而,Storwize等廠商提供利用實時、隨機存取壓縮/解壓技術將數據佔用空間壓縮15:1的解決方案。更高的壓縮率和實時性能使壓縮解決方案成為主存儲數據縮減的可行的選擇。
在備份應用中廣泛採用的數據去重技術也在被應用到主存儲。目前為止,數據去重面臨著一大挑戰,即數據去重處理是離線處理。這是因為確定數量可能多達數百萬的文件中的多餘的數據塊需要大量的時間和存儲處理器做大量的工作,因此非常活躍的數據可能受到影響。當前,推出數據去重技術的主要廠商包括NetApp、Data Domain和OcarinaNetworks。 一、零性能影響
與備份或存檔存儲不同,活躍數據集的性能比能夠用某種形式的數據縮減技術節省的存儲容量更為關鍵。因此,選擇的數據縮減技術必須不影響到性能。它必須有效和簡單;它必須等價於「撥動一個開關,就消耗更少的存儲」。
活躍存儲縮減解決方案只在需要去重的數據達到非活躍狀態時才為活躍存儲去重。換句話說,這意味著實際上只對不再被存取但仍保存在活躍存儲池中的文件――近活躍存儲級――進行去重。
去重技術通過建議只對輕I/O工作負載去重來避免性能瓶頸。因此,IT基礎設施的關鍵組件的存儲沒有得到優化。資料庫排在關鍵組件清單之首。由於它們是1級存儲和極其活躍的組件並且幾乎始終被排除在輕工作負載之外,去重處理從來不分析它們。因此,它們在主存儲中占據的空間沒有得到優化。
另一方面,實時壓縮系統實時壓縮所有流經壓縮系統的數據。這導致節省存儲容量之外的意外好處:存儲性能的提高。當所有數據都被壓縮時,每個I/O請求提交的數據量都有效地增加,硬碟空間增加了,每次寫和讀操作都變得效率更高。

❹ 手錶高溫存儲測試目的是什麼

手錶高溫測試:是用來確定產品在高溫氣候環境條件下儲存、運輸、使用的適應性。試驗的嚴苛程度取決於高溫的溫度和曝露持續時間。

❺ ssd盤測試貯存是什麼意思

存儲執行與傳統HHD選項相同的功能。SSD是固態硬碟,由控制單元和存儲單元FLASH晶元和DRAM晶元組成。目前主流的SSD普遍採用SATA-2介面。根據查詢該硬碟的資料顯示,硬碟是電腦的核心,ssd盤測試貯存的意思是存儲執行與傳統HHD選項相同的功能。使人們的生活更加美好。

❻ 這個圖裡面硬碟有個存取測試,其中有512K有4K有64K,那麼用這些不同大小的文件做存儲測試是

一個1G的整文件 和 1G的碎小文件 讀取速度能一樣嗎? 1000個文件就要定址1000遍

測試不同大小文件 才能綜合測試一個硬碟的讀寫能力

特別是ssd 最重要的是4k的讀寫能力 因為系統文件全是小文件;誰沒事天天讀寫整個1g 2G的大文件呢

❼ 存儲器的測試

存儲器測試的目的是確認在存儲設備中的每一個存儲位置都在工作。換一句話說,如果你把數50存儲在一個具體的地址,你希望可以找到存儲在那裡的那個數,直到另一個數寫入。任何存儲器測試的基本方法是,往存儲器寫入一些數據,然後根據內存設備的地址,校驗讀回的數據。如果所有讀回的數據和那些寫入的數據是一樣的,那麼就可以說存儲設備通過了測試。只有通過認真選擇的一組數據你才可以確信通過的結果是有意義的。
當然,像剛才描述的有儲器的測試不可避免地具有破壞性。在內存測試過程中,你必須覆蓋它原先的內容。因為重寫非易失性存儲器內容通常來說是不可行的,這一部分描述的測試通常只適用於RAM 的測試。 一,普通的存儲器問題
在學習具體的測試演算法之前,你應該了解可能遇到的各種存儲器問題。在軟體工程師中一個普遍的誤解是,大部分的存儲器問題發生在晶元的內部。盡管這類問題一度是一個主要的問題,但是它們在日益減少。存儲設備的製造商們對於每一個批量的晶元都進行了各種產品後期測試。因此,即使某一個批量有問題,其中某個壞晶元進人到你的系統的可能性是微乎其微的。
你可能遇到的一種類型的存儲晶元問題是災難性的失效。這通常是在加工好之後晶元受到物理或者是電子損傷造成的。災難性失效是少見的,通常影響晶元中的大部分。因為一大片區域受到影響,所以災難性的失效當然可以被合適的測試演算法檢測到。
存儲器出問題比較普遍的原因是電路板故障。典型的電路板故障有:
(1)在處理器與存儲設備之間的連線問題
(2)無存儲器晶元
(3)存儲器晶元的不正確插人
二,測試策略
最好有三個獨立的測試:數據匯流排的測試、地址匯流排的測試以及設備的測試。前面兩個測試針對電子連線的問題以及晶元的不正確插入;第三個測試更傾向於檢測晶元的有無以及災難性失效。作為一個意外的結果,設備的測試也可以發現控制匯流排的問題,盡管它不能提供關於問題來源的有用信息。
執行這三個測試的順序是重要的。正確的順序是:首先進行數據匯流排測試,接著是地址匯流排測試,最後是設備測試。那是因為地址匯流排測試假設數據匯流排在正常工作,除非數據匯流排和地址匯流排已知是正常的,否則設備測試便毫無意義。如果任何測試失敗,你都應該和一個硬體工程師一起確定問題的來源。通過查看測試失敗處的數據值或者地址,應該能夠迅速地找出電路板上的問題。
1,數據匯流排測試
我們首先要測試的就是數據匯流排。我們需要確定任何由處理器放置在數據匯流排上的值都被另一端的存儲設備正確接收。最明顯的測試方法就是寫人所有可能的數據值並且驗證存儲設備成功地存儲了每一個。然而,那並不是最有效率的測試方法。一個更快的測試方法是一次測試匯流排上的一位。如果每一個數據上可被設置成為 0 和1,而不受其他數據位的影響,那麼數據匯流排就通過了測試。
2,地址匯流排測試
在確認數據匯流排工作正常之後,你應該接著測試地址匯流排。記住地址匯流排的問題將導致存儲器位置的重疊。有很多可能重疊的地址。然而,不必要測試每一個可能的組合。你應該努力在測試過程中分離每一個地址位。你只需要確認每一個地址線的管腳都可以被設置成0和 1,而不影響其他的管腳。
3,設備測試
一旦你知道地址和數據匯流排是正確的,那麼就有必要測試存儲設備本身的完整性。要確認的是設備中的每一位都能夠保持住0和 1。這個測試實現起來十分簡單,但是它花費的時間比執行前面兩項測試花費的總時間還要長。
對於一個完整的設備測試,你必須訪問(讀和寫)每一個存儲位置兩次。你可以自由地選擇任何數據作為第一步測試的數據,只要在進行第二步測試的時候把這個值求反即可。因為存在沒有存儲器晶元的可能性,所以最好選擇一組隨著地址變化(但是不等於地址)的數。優化措施
市場上並不缺少提高數據存儲效率的新技術,然而這些新技術絕大多數都是關注備份和存檔的,而非主存儲。但是,當企業開始進行主存儲數據縮減時,對他們來說,了解主存儲優化所要求的必要條件十分重要。
主存儲,常常被稱為1級存儲,其特徵是存儲活躍數據――即經常被存取並要求高性能、低時延和高可用性的數據。主存儲一般用於支持關鍵任務應用,如資料庫、電子郵件和交易處理。大多數關鍵應用具有隨機的數據取存模式和不同的取存要求,但它們都生成機構用來運營它們的業務的大量的數據。因此,機構製作數據的許多份拷貝,復制數據供分布使用,庫存數據,然後為安全保存備份和存檔數據。
絕大多數數據是起源於主數據。隨著數據存在的時間增加,它們通常被遷移到二級和三級存儲保存。因此,如果機構可以減少主數據存儲佔用空間,將能夠在數據生命期中利用這些節省下來的容量和費用。換句話說,更少的主存儲佔用空間意味著更少的數據復制、庫存、存檔和備份。
試圖減少主存儲佔用空間存儲管理人員可以考慮兩種減少數據的方法:實時壓縮和數據去重。
直到不久前,由於性能問題,數據壓縮一直沒有在主存儲應用中得到廣泛應用。然而,Storwize等廠商提供利用實時、隨機存取壓縮/解壓技術將數據佔用空間壓縮15:1的解決方案。更高的壓縮率和實時性能使壓縮解決方案成為主存儲數據縮減的可行的選擇。
在備份應用中廣泛採用的數據去重技術也在被應用到主存儲。目前為止,數據去重面臨著一大挑戰,即數據去重處理是離線處理。這是因為確定數量可能多達數百萬的文件中的多餘的數據塊需要大量的時間和存儲處理器做大量的工作,因此非常活躍的數據可能受到影響。當前,推出數據去重技術的主要廠商包括NetApp、Data Domain和OcarinaNetworks。 一、零性能影響
與備份或存檔存儲不同,活躍數據集的性能比能夠用某種形式的數據縮減技術節省的存儲容量更為關鍵。因此,選擇的數據縮減技術必須不影響到性能。它必須有效和簡單;它必須等價於「撥動一個開關,就消耗更少的存儲」。
活躍存儲縮減解決方案只在需要去重的數據達到非活躍狀態時才為活躍存儲去重。換句話說,這意味著實際上只對不再被存取但仍保存在活躍存儲池中的文件――近活躍存儲級――進行去重。
去重技術通過建議只對輕I/O工作負載去重來避免性能瓶頸。因此,IT基礎設施的關鍵組件的存儲沒有得到優化。資料庫排在關鍵組件清單之首。由於它們是1級存儲和極其活躍的組件並且幾乎始終被排除在輕工作負載之外,去重處理從來不分析它們。因此,它們在主存儲中占據的空間沒有得到優化。
另一方面,實時壓縮系統實時壓縮所有流經壓縮系統的數據。這導致節省存儲容量之外的意外好處:存儲性能的提高。當所有數據都被壓縮時,每個I/O請求提交的數據量都有效地增加,硬碟空間增加了,每次寫和讀操作都變得效率更高。
實際結果是佔用的硬碟容量減少,總體存儲性能顯著提高。
主存儲去重的第二個好處是所有數據都被減少,這實現了包括資料庫在內的所有數據的容量節省。盡管Oracle環境的實時數據壓縮可能造成一些性能問題,但迄今為止的測試表明性能提高了。
另一個問題是對存儲控制器本身的性能影響。人們要求今天的存儲控制器除了做伺服硬碟外,還要做很多事情,包括管理不同的協議,執行復制和管理快照。再向這些功能增加另一個功能可能會超出控制器的承受能力――即使它能夠處理額外的工作負載,它仍增加了一個存儲管理人員必須意識到可能成為潛在I/O瓶頸的過程。將壓縮工作交給外部專用設備去做,從性能問題中消除了一個變數,而且不會給存儲控制器造成一點影響。
二、高可用性
許多關注二級存儲的數據縮減解決方案不是高可用的。這是由於它們必須立即恢復的備份或存檔數據不像一級存儲中那樣關鍵。但是,甚至在二級存儲中,這種概念也逐漸不再時興,高可用性被作為一種選擇添加到許多二級存儲系統中。
可是,高可用性在主存儲中並不是可選的選項。從數據縮減格式(被去重或被壓縮)中讀取數據的能力必須存在。在數據縮減解決方案中(其中去重被集成到存儲陣列中),冗餘性是幾乎總是高可用的存儲陣列的必然結果。
在配件市場去重系統中,解決方案的一個組件以數據的原始格式向客戶機提供去重的數據。這個組件就叫做讀出器(reader)。讀出器也必須是高可用的,並且是無縫地高可用的。一些解決方案具有在發生故障時在標准伺服器上載入讀出器的能力。這類解決方案經常被用在近活躍的或更合適的存檔數據上;它們不太適合非常活躍的數據集。
多數聯機壓縮系統被插入系統中和網路上,放置(邏輯上)在交換機與存儲之間。因此,它們由於網路基礎設施級上幾乎總是設計具有的高可用性而取得冗餘性。沿著這些路徑插入聯機專用設備實現了不需要IT管理人員付出額外努力的無縫的故障切換;它利用了已經在網路上所做的工作。
三、節省空間
部署這些解決方案之一必須帶來顯著的容量節省。如果減少佔用容量的主存儲導致低於標準的用戶性能,它沒有價值。
主數據不具有備份數據通常具有的高冗餘存儲模式。這直接影響到總體容量節省。這里也有兩種實現主數據縮減的方法:數據去重和壓縮。
數據去重技術尋找近活躍文件中的冗餘數據,而能取得什麼水平的數據縮減將取決於環境。在具有高冗餘水平的環境中,數據去重可以帶來顯著的ROI(投資回報),而另一些環境只能取得10%到20%的縮減。
壓縮對所有可用數據都有效,並且它在可以為高冗餘數據節省更多的存儲容量的同時,還為主存儲應用常見的更隨機的數據模式始終帶來更高的節省。
實際上,數據模式冗餘度越高,去重帶來的空間節省就越大。數據模式越隨機,壓縮帶來的空間節省就越高。
四、獨立於應用
真正的好處可能來自所有跨數據類型(不管產生這些數據是什麼應用或數據有多活躍)的數據縮減。雖然實際的縮減率根據去重數據的水平或數據的壓縮率的不同而不同,但所有數據都必須合格。
當涉及存檔或備份時,應用特有的數據縮減具有明確的價值,並且有時間為這類數據集定製縮減過程。但是對於活躍數據集,應用的特殊性將造成性能瓶頸,不會帶來顯著的容量縮減的好處。
五、獨立於存儲
在混合的廠商IT基礎設施中,跨所有平台使用同樣的數據縮減工具的能力不僅將進一步增加數據縮減的ROI好處,而且還簡化了部署和管理。每一個存儲平台使用一種不同的數據縮減方法將需要進行大量的培訓,並造成管理級上的混亂。
六、互補
在完成上述所有優化主存儲的工作後,當到了備份主存儲時,最好讓數據保持優化的格式(被壓縮或去重)。如果數據在備份之前必須擴展恢復為原始格式,這將是浪費資源。
為備份擴展數據集將需要:
使用存儲處理器或外部讀出器資源解壓數據;
擴展網路資源以把數據傳送給備份目標;
把額外的資源分配給保存備份數據的備份存儲設備。

❽ 內存條測試崗位是幹嘛的

內存測試是指內存在生產過程中經歷的多次檢測,這些檢測包括:焊接檢測、PCB外觀檢測、功能檢測和整體外觀檢測等。

另一方面也指軟體內存測試。它還需要測試軟體的最大內存等資源的佔用率,防止軟體使用的資源超出系統的限制。同時還需要測試系統資源在極端情況下的軟體行為,如系統內存資源被別的應用程序消耗時程序長時間運行後的情況等。
內存測試的需求來源
作為計算機不可缺少的一部分,內存性能的好壞對整個計算機系統有著極其重要的影響,隨著電子技術的不斷革新,計算機CPU的性能、匯流排帶寬和主頻不斷提高,而CPU所需的處理數據是直接從內存中獲取的,為了匹配CPU的運行速率,不讓CPU長時間處於等待狀態,造成硬體資源浪費,就需要內存不斷更新換代,不斷提高工作速度和存儲容量。
隨著內存條的不斷更新換代,高性能的內存已經成為存儲器發展的主流,然而隨著內存顆粒容量的增大,單元密度增加,生產製造工藝越來越復雜,生產出的內存產品良率明顯下降。因此,必須對內存條進行故障檢測,測試的意義:一方面判斷DDR2及DDR3 SDRAM內存條產品質量的好壞;另一方面對計算機內存系統的設計也很關鍵,內存條質量的好壞直接影響到內存系統的穩定性和可靠性。只有一個性能優良的DDR2 SDRAM或DDR3 SDRAM內存條才能使伺服器、PC等各種高速系統工作正常[。由此可見對DDR2及DDR3 SDRAM內存的故障測試是極其重要的。
內存測試方法的發展趨勢
隨著DDR2和DDR3 SDRAM的廣泛應用,方便快捷的檢測內存系統成為了行業需求,內存在生產過程中經歷了很多次檢測,這些檢測包括:焊接檢測、PCB外觀檢測、功能檢測和整體外觀檢測。焊接檢測是在內存基本成型時利用X光線檢測WLCSP(晶圓級晶元封裝)或BGA(球珊陣列結構)封裝的內存顆粒的錫球;PCB外觀檢測是人工以目測方式在放大鏡下進行;功能檢測的測試內容有容量、數據存取、SPD信息等;整體外觀檢測是對內存的整體外觀進行的最後一次檢測。這樣就完成了內存出廠前的整個測試工序,當然不同的廠家在功能測試方面採用的方法不同。
內存廠商,大多採用內存自動測試設備(Automated Test Equipment, ATE)對內存條進行測試[1] ,運用最多的是Advantest測試系統。例如在內存市場一直有較好聲譽的宇瞻(Apacer),就是通過最高端的Advantest測試系統進行檢測。除了Advantest測試系統以外,還有Keysight的V5500測試系統,它們都是檢測SDRAM晶元或內存條的性能和質量的設備。ATE測試設備測試項目包括交、直流參數測試及功能測試。其中的功能測試是對SDRAM晶元的讀、寫及數據保持等功能的檢測,可以通過改變數據讀、寫的定址順序以及數據圖案信息來檢測這些功能是否正確。
高檔的ATE測試設備有:Verigy公司的93K系統、Advantest公司的T5581/T5585/T5592系統以及KINGTIGER公司的KT-2APR0系統。這些測試系統的特點為:測試速度快;測試精度高;具有完整的時序、電性能和功能測試及分析;供專業的廠商使用;購買價格昂貴。以Advantest公司生產的T5592為例,該測試系統能夠對各種專用存儲器進行測試,最高可達到1.066GHz的測試頻率,最大可測64顆存儲晶元,同時還對存儲器的驅動口與雙向口分開測試進行了專門的設計,降低測試成本。
除了ATE測試設備測試內存以外,還有一些軟體工具能夠測試內存,如RST ( Ram Stress Test)內存測試軟體,RST是美國Ultra-X公司的一個維修級系統檢測工具,此檢測工具是專門給內存生產廠商使用的,RST在內存生產業使用非常普遍,因為此工具能檢測出內存出現的大部分問題,所以是非常好用的一個測試工具,同時此測試軟體與x86系列計算機相匹配,只要BIOS系統能識別的內存容量它都能檢測,但是只能檢測DDR內存;如果要檢測DDR2內存,需要「微軟內存檢測工具」,此測試工具對內存有6項測試方法,每項都有其獨特的測試演算法來測試內存故障,但是一般情況下,一項測試就能檢測出內存是否有故障四。
另外還有一款優秀的基於Linux核心的內存測試軟體Memtest86,該軟體對內存故障的檢測准確率較高,其測試不僅僅局限於檢測內存條的好與壞,還能檢測出內存的隱性問題以及內存和系統的穩定性。
與此同時,板載BIOS固化的內存測試程序、以及基於ISA或PCI匯流排的內存測試卡也可對內存進行測試,但這幾種測試方法的缺點是需計算機主板晶元組支持,且必須要在能點亮的情況下才能進行測試。
基於嵌入式的軟體內存測試
研究嵌入式軟體內存測試的背景
軟體內存測試[2] 是提高軟體質量的一個重要手段,據統計,國外軟體開發機構40%的工作量花在軟體測試上,軟體開發費用的近1/2用於軟體測試。對於一些要求高可靠、高安全的軟體,如核反應監控軟體、航天軟體,測試費用可能相當於軟體工程其它費用總和的3-5倍。
嵌入式軟體和一般的應用軟體測試相比,具有自身的特點(特別是對於沒有操作系統的嵌入式應用軟體而言):
1)嵌入式軟體是在特定的硬體環境下才能運行的軟體。因此,嵌入式軟體測試最重要的目的就是保證嵌入式軟體能在其特定的硬體環境下更可靠地運行。
2)嵌入式軟體測試除了要保證嵌入式軟體在特定硬體環境中運行的高可靠性,還要保證嵌入式軟體的實時性。比如在工業控制中,如果某些特定環境下的嵌入式軟體不具備實時響應的能力,就可能造成巨大的損失。
3)嵌入式軟體產品為了滿足高可靠性的要求,不允許內存在運行時有泄漏等情況發生,因此嵌入式軟體測試除了對軟體進行性能測試、GUI測試、覆蓋分析測試之外,還需要對內存進行測試。
內存測試需要測試軟體中的內存越界訪問、內存資源泄漏情況。內存越界主要包括數組越界讀寫、「野指針操作」和堆棧溢出等幾種。內存資源泄漏情況則包含較多的種類,如分配的內存沒有釋放、打開的文件沒有關閉、socket沒有關閉、Windows窗口句柄沒有關閉等。內存越界和內存資源泄漏是普遍存在的嚴重問題,可以說如果解決了內存越界和內存資源泄漏問題,軟體中的Bug就消除了一大半以上。
內存測試還需要測試軟體的最大內存等資源的佔用率,防止軟體使用的資源超出系統的限制。同時還需要測試系統資源在極端情況下的軟體行為如系統內存資源被別的應用程序消耗時程序長時間運行後的情況等。
傳統軟體內存測試技術限制
傳統軟體內存測試技術分為靜態測試和動態測試。
靜態測試可以檢查軟體代碼的編程規范,分析程序的靜態結構,對軟體進行質量度量(如Testbed等)。藉助於靜態測試技術,可以使代碼更加規范,結構更加清晰,但不能分析各個變數之間的關系,當程序動態運行時,可能出現的運行時錯誤不能檢查出來。因此,傳統測試時靜態測試要和動態測試結合起來做。但動態測試具有太大的人為因素,導致動態測試不可能達到完全測試,只能達到測試用例覆蓋的程度,保證測試過的用例輸入不會出問題。同時,動態測試發現的問題僅局限於現象,測試人員提交BUG後,開發人員還需要對BUG進行重現並使用調試工具對BUG進行定位,這需要一定的時間。尤其對於偶出現的問題,需要更多的時間去調試、定位。

❾ 嗶哩嗶哩外置儲存卡測試是什麼意思

檢測儲存卡的。根據查詢相關資料信息點擊進入嗶哩嗶哩app,點擊進入我的,點擊進入設置,點擊進入播放設置,點擊進入外置存儲卡測試,然後點擊測試即可。

❿ 如何進行存儲系統的性能測試

要解決你的問題,首先要明確你准備將測試結果精確到什麼程度:只是獲得一個初步的結果;分析未來的發展動向;還是准備搜集盡可能多的數據;甚至包括以上三者?一定要弄清楚這個問題再動手。 進行存儲性能分析不僅僅是收集數據那麼簡單。採集數據只是一方面,另外,你還需要分析數據。可以用現有的SRM(存儲資源管理)工具來採集數據。如果沒有這種系統,可以僱用顧問公司來解決這個問題(顧問公司還可以同時進行數據分析)。 我不太清楚在開源環境中有什麼便宜的軟體能解決你的問題。只有幾個SRM系統能夠工作,比如SUN公司的StorEdge Suite,IBM公司也集成了Trellisoft SRM系統,這兩個系統都能在開源環境中工作。然而,這些系統都有至少5個許可證書,如果你要在自己的系統中採用它們,就需要獲得相應許可。 如果你只想測試你的系統性能,不需要執行整個SRM系統,最好的選擇是獲得外部的幫助(比如僱用顧問公司)。 如果你打算採用別的軟體來完成採集數據的工作,那麼需要注意如下幾點:執行軟體前,需要配置好對應的管理框架 軟體不一定支持所有的操作環境(Windows, Linux, Solaris, Aix) 軟體不支持資料庫 測試代理性能時需要重啟已經安裝過的伺服器 除了少數幾個操作系統,軟體代理大部分情況下無法進行遠程操作(設想一下,可能需要手動安裝上百個代理軟體) 以上列出了一些在選擇評測軟體前容易忽視的地方。 希望這些能夠對你有所幫助。

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