粒度估演算法

① 常規的粒度分析方法有幾種

據我所知有沉降法、激光法、顯微鏡法，以前我記得還有一種空氣透過法（大概15年前的了）估計已經淘汰了！

② 粒度分布的計算方法

D50：一個樣品的累計粒度分布百分數達到50%時所對應的粒徑。它的物理意義是粒徑大於它的顆粒佔50%，小於它的顆粒也佔50%，D50也叫中位徑或中值粒徑。D50常用來表示粉體的平均粒度。

D90：一個樣品的累計粒度分布數達到90%時所對應的粒徑。它的物理意義是粒徑小於它的的顆粒佔90%。D90常用來表示粉體粗端的粒度指標。 其它如D16、D90等參數的定義與物理意義與D97相似。

D10：D10就是縱坐標累計分布10%所對應的橫坐標直徑值。

顆粒累計分布為10%的粒徑，即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的10%。顆粒粒徑分布為50%的粒徑，即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的50%。顆粒粒徑分布為90%的粒徑，即小於此粒徑的顆粒體積含量佔全部顆粒的90%。

產品種類豐富，其中激光衍射粒度分析儀可為干濕法分散提供快速、精確、便捷的粒徑分布測試。 該分析儀可在納米至毫米粒度范圍內進行測量，體積小巧、性能卓越、穩定可靠，可為所有用戶提供無需操作者干預的測量。

(2)粒度估演算法擴展閱讀：

數學方程式亦可用來描述粒度分布。雖曾有人嘗試將這類數學式與實際斷裂力學相聯系，但多數還是一些僅便於表述數據的經驗關系式。當數據必須處理時，數學式可能有用；但這往往要求使用計算機，而在這類條件下，實際數據的矩陣表示同樣方便，而且更可靠。

粒度數據的圖示法通常是以橫坐標(x軸)列出顆粒粒度，以縱坐標(y軸)列出測得的基準量。表示數量有兩種方法：一種是列出每一粒級中的量(絕對量，分數，或百分數)，另一種方法是列出高於或低於某一粒度的累計量(分數或百分數)。

③ 常用粒度測試方法所具有哪些優缺點

顆粒的大小稱為顆粒的粒度。顆粒是在一定尺寸范圍內具有特定形狀的幾何體。顆粒不僅指固體顆粒，還有霧滴、油珠等液體顆粒。顆粒的概念似乎很簡單，但由於各種顆粒的形狀復雜，使得粒度分布的測試工作比想像的要復雜得多。因此要真正了解各種粒度測試技術所得出的測試結果，明確顆粒的定義是很重要的。
篩分法： 優點：簡單、直觀、設備造價低、常用於大於40μm的樣品。
缺點：不能用於40μm以細的樣品；結果受人為因素和篩孔變形影響較大。
顯微鏡（圖像）法： 優點：簡單、直觀、可進行形貌分析，適合分布窄（最大和最小粒徑的比值小於10：1）的樣品。
缺點：無法分析分布范圍寬的樣品，無法分析小於1微米的樣品。
沉降法（包括重力沉降和離心沉降）： 優點：操作簡便，儀器可以連續運行，價格低，准確性和重復性較好，測試范圍較大。
缺點：測試時間較長，操作比較復雜。
庫爾特法： 優點：操作簡便，可測顆粒總數，等效概念明確，速度快，准確性好。
缺點：適合分布范圍較窄的樣品。
激光法： 優點：操作簡便，測試速度快，測試范圍大，重復性和准確性好，可進行在線測量和干法測量。
缺點：結果受分布模型影響較大，儀器造價較高。
電鏡： 優點：適合測試超細顆粒甚至納米顆粒、解析度高。
缺點：樣品少、代表性差、儀器價格昂貴。
超聲波法： 優點：可對高濃度漿料直接測量。
缺點：解析度較低。
透氣法： 優點：儀器價格低，不用對樣品進行分散，可測磁性材料粉體。
缺點：只能得到平均粒度值，不能測粒度分布。

④ 粒度參數的計算

合適的粒度參數能較簡便地表示碎屑沉積物的粒度特徵，在分析沉積物的搬運方式和介質的水動力條件方面，有一定的參考價值。粒度參數的計算有兩種方法，即矩法與圖解法。矩法計算是一種近似的定量計算，其優點是能使整個粒度分布都投入計算，但計算手續較為復雜。運用矩法統計粒度參數的公式分別是

圖6-7 正態概率坐標

（1）平均值

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（2）標准偏差

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（3）偏度

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（4）尖度

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式中：f為每個粒級中質量百分數（頻率）；m為每個粒級中間值，以φ表示；n為樣品中顆粒總數，當以百分數表示時，n就等於100。

圖解法可以從累積曲線上讀出與某些累積百分數相應的顆粒直徑，稱之為分位數值，再經簡單的數學運算，即可得出粒度參數。此法簡便。精度也可以。

首先，從累積曲線圖上讀出下列參數：

φ₁——累積質量為1%的粒徑φ值；φ₅——累積質量為5%的粒徑φ值；φ₁₆——累積質量為16%的粒徑φ值；φ₂₅——累積質量為25%的粒徑φ值；φ₅₀——累積質量為50%的粒徑φ值；φ₇₅——累積質量為75%的粒徑φ值；φ₈₄——累積質量為84%的粒徑φ值；φ₉₅——累積質量為95%的粒徑φ值。

上列參數又稱之為百分位數，例如φ₁₆相對應於16%處的粒徑φ值，稱之為第16百分位數。φ眾數為含量最高的粒級φ值，可直接從原始分析數據上讀出；＜4φ的粒級含量百分數，也可直接從原始分析數據上讀出。

過去廣泛採用的是特拉斯克（Trask，1930）提出的粒度參數計算公式：

（1）平均值

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（2）分選性

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式中：Q₁為第一四分位數，即相當於25%處的粒徑大小；Q₃為第三四分位數，即相當於75%處的粒徑大小。

（3）偏度

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特拉斯克的參數精度較差，不能表示出分布的粗尾和細尾的特徵。因此，目前大都採用福克及沃德（Folk and Ward，1957）提出的粒度參數計算公式：

（1）平均值

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（2）標准偏差

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（3）偏度

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（4）尖度

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平均值可以反映沉積物的平均粒度，它是沉積物粒度特徵中最主要的特徵之一，常被用來作剖面粒度韻律曲線，作為沉積韻律的基礎。或是作平面等值線圖，表示沉積物在平面上的粒度變化。作為岩性變化的基礎，劃分沉積相帶，追索物源方向。或是用於研究儲油物性與粒度關系等方面，應用很廣。

標准偏差（σ_φ）用來表示沉積物粒度的分選程度，即顆粒大小的均勻性。若粒級少，主要粒級很突出，百分含量高，分選就好，標准偏差的數值小；反之，粒級分布范圍很寬，主要粒級不突出，甚至是兩峰或多峰沉積物，則分選就差，標准偏差的數值大。

偏度（SK_φ）是用以度量頻率曲線的不對稱程度的，即表示非正態性特徵的。按頻率曲線對稱的性質分為三類：正偏態、正態及負偏態（圖6-8）。偏度公式的前一半是表示頻率曲線中央部分的偏度，另一半表示粗細兩尾端的偏度。

圖6-8 正態頻率曲線和正偏態、負偏態曲線

1）曲線對稱時，SK_φ=0。

2）曲線不對稱呈正偏時，SK_φ＞0，最大可達+1，通常不超過+0.8。

3）曲線不對稱呈負偏時，SK_φ＜0，最小可到-1，通常不超過-0.8。

偏度與分選有密切關系，很純的分選、很好的單峰沉積物頻率曲線是對稱的；當有另一組粗或細的少量組分加入時，分選變差，頻率曲線為不對稱，為正偏或負偏；當新加入組分的含量逐漸增加，相應地舊組分減少，至兩組分的含量相等時，分選最差，頻率曲線呈平坦的馬鞍狀雙峰曲線，又趨於對稱。

尖度或稱峰態（K_φ）是計算分布曲線尾部展開度與中部展開度的比例來表示的。用之來說明與正態分布曲線相比時分布曲線的峰的寬窄尖銳程度（圖6-9）。按福克和沃德（1957）所建議的尖度公式，正態曲線的K_φ=1.01，雙峰分布的K_φ值可能低至0.68，而含尾部的尖峰分布，其K_φ可能在1.5～3之間，或更大些。

尖度和偏度一樣，都是用來測量沉積物頻率曲線的雙峰性質和反映其尾部變化的。由於沉積物的粒度分布，以粗細兩尾端部分對搬運介質的機械作用反映最靈敏，所以尖度和偏度可用於判斷沉積環境和追溯物源方向。真正的單峰沉積物，如海灘砂，應該為常態曲線，有正常的偏度和尖度值。不正常的偏度和尖度值的出現說明沉積物是雙峰或多峰的多物源的混合沉積物，在頻率曲線上應顯示雙峰或多峰性質。但當次峰不明顯時，曲線反映不出來，而偏度和尖度卻能靈敏地表示出微弱的雙峰或多峰性質。有的尖度比偏度更靈敏些。

圖6-9 寬窄峰態與正態曲線形態的比較

⑤ 焦炭的平均粒度計算方法

焦炭的平均粒度計算方法

1. 焦炭平均粒度有許多種，計算步驟都較繁。
   介紹一種常用的，叫「表面積體積平均徑」，簡寫D(3,2)：
   D(3,2) = 1 / (Σ(fVI /DI))。
   就是，「(體積)表中百分數，除對應的邊界中值」，這些值相加後，再倒數。
   例如，邊界0到1有10%，1到2有30%，2到4有40%，4到8有20%，那麼為
   D(3,2) = 1 / (0.1/0.5 + 0.3/1.5 + 0.4/3 + 0.2/6) = 1/(0.2 + 0.2 + 0.13 + 0.03) = 1/0.56 = 1.78

⑥ 粒度分析

粒度與搬運流體的性質及其力學特徵密切相關，它是判別環境的標志之一。目前國際上應用最廣的粒度分級標準是伍登-溫德華粒級。它是以1mm作為基數乘以或除以2來分級的。後經克倫賓將其轉化為φ值。轉換公式為：

φ＝-log₂d

式中：d為毫米直徑值。形成一個以1為基數，2為公比數的等比級數列。如表4-3所示。

表4-3 伍登-溫德華φ值粒度標准

^*有些分界點記為0.05mm；^**有些分界點記為0.005mm

沉積物粒度測量方法，主要包括放大鏡、照片分析、篩析、沉降分析、顯微鏡下粒度分析等方法。針對不同的顆粒選擇適用的方法進行測量，其中，礫石等顆粒級別較大的多用皮尺或測量規直接測量，用量筒測礫石的體積。可松解或疏鬆的細、中碎屑岩多採用篩析法。粉砂及黏土岩常用沉降法、流水法等方法測量。固結的無法松解的岩石多採用顯微鏡下粒度分析。不同的方法測出的結果，略有差別，需校正後才能互用，其中沉降粒徑和篩析粒徑之間的偏差小於或等於0.1φ，可以直接互用。但薄片顯微鏡下分析粒徑，因存在切片效應，需經過弗里德曼（1962）所提出的粒度的回歸校正方程：

D＝0.3815+0.9027d

式中：D為校正後的篩析粒徑，d是薄片中測定的視長徑，均為φ單位。進行校正後才能與篩析法的結果相互用，一般校正後的平均粒徑最大偏差一般不超過1/4φ單位。

此外，在粒度測量中雜基校正是一項重要的工作，其方法是：顯微鏡測至7φ，測定或估出雜基含量。取其2/3～1/2為校正值，假定為Δ，將各累計頻率乘以（100-Δ），重新繪曲線。對於弱固結岩石，可用同一標本既做篩析也作薄片分析，通過實驗求出校正系數（100-Δ）的數值。

粒度分析的結果可獲取到大量的測值，這種大量的數字資料要用統計的方法加以處理，才能推斷其與流體力學性質和沉積環境之間的關系。主要的方法是：根據資料做出一些圖件，從這些圖件上做定量的解釋分析。或者直接通過計算，統計參數。兩種方法各有優劣，往往需綜合分析利用。

粒度分析圖主要包括直方圖、頻率曲線圖和累積曲線圖（累積百分含量圖）。其中最常用的是累積百分含量圖，是由維希爾（1969）根據采自現代和古代不同環境內的1500個樣品測得的粒度數據，以粒徑（φ值）為橫坐標，以累積概率值為縱坐標，用來表現大於一定粒級的百分含量統計圖。他通過分析得出了沉積物搬運方式與粒度分布之間的關系，以及一些環境的概率圖模式（圖4-1）。

圖4-1 搬運方式與粒度分布的關系

（據Visher，1969）

沉積物的粒度一般不是表現為單一的對數正態分布，因此，在概率分布圖上總是表現為幾個相交的直線段。每個直線段是不同搬運方式產生的響應。主要包括牽引負載、跳躍負載和懸浮負載三種。其中，懸浮負載的顆粒一般很細，粒徑在0.1mm左右，其負載顆粒的粗細變化取決於介質的擾動強度，在概率圖上的右上角形成懸浮次總體；跳躍負載是指靠近河床底部層，通過在動盪的水中或流水中對顆粒進行分選，粒徑一般在0.15～1.0mm之間，往往是沉積樣品中分選最好的組分，在概率圖的中部形成跳躍次總體，其不是一個粒度總體，而是由兩部分組成，如海灘砂；底部牽引負載是粗粒組分，因顆粒粗而在地面上滾動，形成的滾動次總體位於圖的左下方。沉積物因粒徑大小和分選性的不同，經歷了不同的搬運方式，在累積概率圖上形成了不同的次總體直線。直線的不同斜率代表不同的分選性，斜率越大代表分選越好，一定的粒度分布區間和斜率，表明不同的次總體具有一定的平均粒徑和標准偏差。各直線段的交點稱為交截點，有的樣品在兩個粒度次總體間有混合帶，在圖上表現為兩線段圓滑接觸。

大量的粒度數據通過計算獲得各種分析參數後，往往也通過作圖來進行定量分析，最常用的是弗里德曼（1961，1967）通過對現代海洋與河流、湖灘沉積所做的粒度分析，用粒度參數離散圖（採用10種粒度參數，作出19種圖）來區分河流與海（湖）灘沉積。離散圖能夠把不同成因的砂區別開來，是由於不同成因的砂具有不相同的結構參數。

此外，C-M圖也是另外一種常用的圖版（圖4-2），它是應用每個樣品的C值和M值繪成的圖形，由Passega（1957，1964）所提出。其中，C值是累積曲線上顆粒含量1%處對應的粒徑，M值是累積曲線上50%處對應的粒徑。C值與樣品中最粗顆粒的粒徑相當，代表了水動力攪動開始搬運的最大能量；M值是中值，代表了水動力的平均能量。該圖版對於每一個樣品都可以用其C值和M值，在以C值為縱坐標，以M值為橫坐標的雙對數坐標紙上投得一個點，研究沉積地層包含的由粗至細的全部粒度結構類型樣品在圖紙上會投得一個點群。根據點群的分布繪出的圖形形態、分布范圍，以及圖形與C-M基線的關系等特點，與已知沉積環境的典型C-M圖進行對比，再結合其岩性特徵，從而對該層沉積岩的沉積環境做出判斷。

圖4-2 牽引流的C-M圖像及粒度類型

（據Passega，1964）

在C-M圖中，Ⅰ，Ⅱ，Ⅲ，Ⅸ 段表示C＞1000μm，Ⅳ，Ⅴ，Ⅵ，Ⅶ，Ⅷ段表示C＜1000μm。1表示牽引流沉積，2表示濁流沉積，「T」代表靜水懸浮沉積。「S」形圖是以河流沉積為例的完整C-M圖，可劃分為N—O—P—Q—R—S段。其中從左至右：

N—O段基本上由滾動顆粒組成，C值一般大於1mm（1000μm），常構成河流的砂壩礫石堆積物。

O—P段是滾動物質與間歇懸浮物質（跳躍）混合，物質組分中滾動組分與懸浮組分相混合。C值一般大於800μm，但由於滾動組分中有懸浮物質的參加，從而使M值有明顯的變化。C值稍微變化即會使M 值發生重大改變，即粒度分布極不對稱，粗細首尾不均。

P—Q段是以間歇懸浮質為主，粗粒滾動質減少。由上游至下游C值變化而M值不變，說明隨著流體搬運能力的減弱，越向下游滾動組分的顆粒越小。但由於滾動顆粒的數量並不多，因此M值基本不變。P點附近的C值以C_r表示，它代表著最易作滾動搬運的顆粒直徑。

Q—R段為遞變懸浮段，沉積物的特點是C值與M值相應變化，顯示出與C＝M線平行的結果，主要搬運方式為遞變懸浮搬運，懸浮物質組分在流體中由下向上粒度逐漸變細，密度逐漸變低。它一般位於水流底部，常是由於渦流發育造成的。該段C的最大值以C_s表示。

R—S段為均勻懸浮段，是粒徑和密度不隨深度變化的完全懸浮，隨著M值向S端逐漸變小，C值基本不變，最大C值即C_u，它代表均勻懸浮搬運的最大粒級。搬運方式常是遞變懸浮之上的上層水流搬運，不受底流搬運分選，物質組成主要為粉砂和泥質混合物，最粗的粒度為細砂。表示在河流中從上游至下游沉積物的粒度成分變化不大，只是粗粒級含量相對減少。

C-M圖也可用來研究水深、分選性、古流速和碎屑岩分類等，它是一種多功能綜合圖。

⑦ 粒度測試的基本方法

粒度測試的方法很多，據統計有上百種。目前常用的有沉降法、激光法、篩分法、圖像法和電阻法五種，另外還有幾種在特定行業和領域中常用的測試方法。 沉降法是根據不同粒徑的顆粒在液體中的沉降速度不同測量粒度分布的一種方法。它的基本過程是把樣品放到某種液體中製成一定濃度的懸浮液，懸浮液中的顆粒在重力或離心力作用下將發生沉降。不同粒徑顆粒的沉降速度是不同的，大顆粒的沉降速度較快，小顆粒的沉降速度較慢。那麼顆粒的沉降速度與粒徑有怎樣的數量關系，通過什麼方式反映顆粒的沉降速度呢？
① Stokes定律：在重力場中，懸浮在液體中的顆粒受重力、浮力和粘滯阻力的作用將發生運動，其運動方程為：
這就是Stokes定律。
從Stokes 定律中我們看到，沉降速度與顆粒直徑的平方成正比。比如兩個粒徑比為1:10的顆粒，其沉降速度之比為1:100，就是說細顆粒的沉降速度要慢很多。為了加快細顆粒的沉降速度，縮短測量時間，現代沉降儀大都引入離心沉降方式。在離心沉降狀態下，顆粒的沉降事度與粒度的關系如下：
這就是Stokes定律在離心狀態下的表達式。由於離心轉速都在數百轉以上，離心加速度ω2r遠遠大於重力加速度g，Vc>>V，所以在粒徑相同的條件下，離心沉降的測試時間將大大縮短。
② 比爾定律：
如前所述，沉降法是根據顆粒的沉降速度來測試粒度分布的。但直接測量顆粒的沉降速度是很困難的。所以在實際應用過程中是通過測量不同時刻透過懸浮液光強的變化率來間接地反映顆粒的沉降速度的。那麼光強的變化率與粒徑之間的關系又是怎樣的呢？比爾是律告訴我們：
設在T1、T2、T3、……Ti時刻測得一系列的光強值I1<I2<I3……<Ii，這些光強值對應的顆粒粒徑為D1>D2>D3>……>Di，將這些光強值和粒徑值代入式（5），再通過計算機處理就可以得到粒度分布了。 激光法是根據激光照射到顆粒後，顆粒能使激光產生衍射或散射的現象來測試粒度分布的。由激光器的發生的激光，經擴束後成為一束直徑為10mm左右的平行光。在沒有顆粒的情況下該平行光通過富氏透鏡後匯聚到後焦平面上。如下圖所示：
當通過適當的方式將一定量的顆粒均勻地放置到平行光束中時，平行光將發生散現象。一部分光將與光軸成一定角度向外傳播。如下圖：
那麼，散射現象與粒徑之間有什麼關系呢？理論和實驗都證明：大顆粒引發的散射光的角度小，顆粒越小，散光與軸之間的角度就越大。這些不同角度的散射光通過富姓氏透鏡後在焦平面上將形成一系列有不同半徑的光環，由這些光環組成的明暗交替的光斑稱為Airy斑。Airy斑中包含著豐富粒度信息，簡單地理解就是半徑大的光環對應著較小的粒徑；半徑小的光環對應著較大的粒徑；不同半徑的光環光的強弱，包含該粒徑顆粒的數量信息。這樣我們在焦平面上放置一系列的光電接收器，將由不同粒徑顆粒散射的光信號轉換成電信號，並傳輸到計算機中，通過米氏散理論對這些信號進行數學處理，就可以得到粒度分布了。 電阻法又叫庫爾特法，是由美國一個叫庫爾特的人發明的一種粒度測試方法。這種方法是根據顆粒在通過一個小微孔的瞬間，占據了小微孔中的部分空間而排開了小微孔中的導電液體，使小微孔兩端的電阻發生變化的原理測試粒度分布的。小孔兩端的電阻的大小與顆粒的體積成正比。當不同大小的粒徑顆粒連續通過小微孔時，小微孔的兩端將連續產生不同大小的電阻信號，通過計算機對這些電阻信號進行處理就可以得到粒度分布了。如圖所示：
用庫爾特法進行粒度測試所用的介質通常是導電性能較好的生理鹽水。 光阻法（Light Blockage），又稱為光障礙法或光遮擋法，是利用微粒對光的遮擋所發生的光強度變化進行微粒粒徑檢測的方法，檢測范圍從1μm到2.5mm。
工作原理：當液體中的微粒通過一窄小的檢測區時，與液體流向垂直的入射光，由於被不溶性微粒所阻擋，從而使感測器輸出信號變化，這種信號變化與微粒的截面積成正比，光阻法檢查注射液中不溶性微粒即依據此原理。 顯微圖像法包括顯微鏡、CCD攝像頭（或數碼像機）、圖形採集卡、計算機等部分組成。它的基本工作原理是將顯微鏡放大後的顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形採集卡傳輸到計算機中，由計算機對這些圖像進行邊緣識別等處理，計算出每個顆粒的投影面積，根據等效投影面積原理得出每個顆粒的粒徑，再統計出所設定的粒徑區間的顆粒的數量，就可以得到粒度分布了。
由於這種方法單次所測到的顆粒個數較少，對同一個樣品可以通過更換視場的方法進行多次測量來提高測試結果的真實性。除了進行粒度測試之外，顯微圖像法還常用來觀察和測試顆粒的形貌。 除了上述幾種粒度測試方法以外，目前在生產和研究領域還常用刮板法、沉降瓶法、透氣法、超聲波法和動態光散射法等。
(1) 刮板法：把樣品刮到一個平板的表面上，觀察粗糙度，以此來評價樣品的粒度是否合格。此法是塗料行業採用的一種方法。是一個定性的粒度測試方法。
(2) 沉降瓶法：它的原理與前後講的沉降法原理大致相同。測試過程是首先將一定量的樣品與液體在500ml或1000l的量筒里配製成懸浮液，充分攪拌均勻後取出一定量（如20ml）作為樣品的總重量，然後根據Stokes定律計算好每種顆粒沉降時間，在固定的時刻分別放出相同量的懸浮液，來代表該時刻對應的粒徑。將每個時刻得到的懸浮液烘乾、稱重後就可以計算出粒度分布了。此法目前在磨料和河流泥沙等行業還有應用。
(3) 透氣法：透氣法也叫弗氏法。先將樣品裝到一個金屬管里並壓實，將這個金屬管安裝到一個氣路里形成一個閉環氣路。當氣路中的氣體流動時，氣體將從顆粒的縫隙中穿過。如果樣品較粗，顆粒之間的縫隙就大，氣體流邊所受的阻礙就小；樣品較細，顆粒之間的縫隙就小，氣體流動所受的阻礙就大。透氣法就是根據這樣一個原理來測試粒度的。這種方法只能得到一個平均粒度值，不能測量粒度分布。這種方法主要用在磁性材料行業。
(4) 超聲波法：通過不同粒徑顆粒對超聲波產生不同的影響的原理來測量粒度分布的一種方法。它可以直接測試固液比達到70%的高濃度漿料。這種方法是一種新的技術，目前國內外都有人進行研究，據說國外已經有了儀器，國內目前還沒有。
(5) 動態光散射法：前面所講的激光散射法可以理解為靜態光散射法。當顆粒小到一定的程度時，顆粒在液體中受布朗運動的影響，呈一種隨機的運動狀態，其運動距離與運動速度與顆粒的大小有關。通過相關技術來識別這些顆粒的運動狀態，就可以得到粒度分布了。動態光散射法，主要用來測量納米材料的粒度分布。國外已有現成的儀器，國內目前還沒有。